單晶少子壽命測試儀

單晶少子壽命測試儀 矽單晶非平衡少數載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

單晶少子壽命測試儀 矽單晶非平衡少數載流子壽命測量儀  特點:

該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用於測量矽單晶的非平衡少數載流子壽命；

測試單晶電阻率範圍：>0.3Ω.cm；

可測單晶少子壽命範圍：1μS-10000μS；

配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；

餘輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍數約25；

測量方式：采用對標準曲線讀數方式；

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特點:

該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用於測量矽單晶的非平衡少數載流子壽命；

測試單晶電阻率範圍：>0.3Ω.cm；

可測單晶少子壽命範圍：1μS-10000μS；

配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；

餘輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍數約25；

測量方式：采用對標準曲線讀數方式；